des films sur un substrat solide permettra leur caractérisation par AFM. L. Bardin,
M.-C. Fauré, D. Limagne, C. Chevallard..., O. Konovalov, E. J.
M. Filipe, G. Waton,
M.-P. Krafft,
M. Goldmann, P. Fontaine, Long-range organization at the nanoscale of semi... - €2654.27 per month -
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